माइक्रोफोकस x - किरण स्रोत

उच्च संकल्प इमेजिंग
माइक्रोफोकस एक्स - किरण स्रोत उप - माइक्रोन फोकल स्पॉट आकार (0.5 माइक्रोन तक) प्राप्त करते हैं, जिससे औद्योगिक नमूनों में 1 माइक्रोन से छोटे दोषों का पता लगाने में सक्षम होता है। माइक्रोइलेक्ट्रोनिक घटकों और बैटरी कोशिकाओं का विश्लेषण करने के लिए यह सटीकता बहुत महत्वपूर्ण है।

 

 

उच्च - वोल्टेज बिजली की आपूर्ति के साथ एकीकृत, आधुनिक MFX इकाइयां 50 किग्रा के तहत वजन करते हैं, यहां तक ​​कि 5 किग्रा भी सोचा, स्वचालित उत्पादन लाइनों में इनलाइन या Oofline निरीक्षण की सुविधा प्रदान करता है।

सेमीकंडक्टर उद्योग: चिप्स में मिलाप संयुक्त voids और वायर बॉन्ड दोषों का पता लगाता है, और धातु में दरारें, जैसे कि, diecasting भागों, एल्यूमीनियम भागों आदि।

 

बैटरी गुणवत्ता नियंत्रण: लिथियम - आयन कोशिकाओं में इलेक्ट्रोड असमानता और इलेक्ट्रोलाइट वितरण का पता लगाता है।

उन्नत सामग्री: 3 डी मुद्रित मिश्र धातुओं और समग्र संरचनाओं की छिद्र का विश्लेषण करता है।

वैश्विक MFX बाजार 8.3% (2023 - 2032) के CAGR पर बढ़ने की उम्मीद है, गैर-विनाशकारी परीक्षण की मांग से प्रेरित है
इलेक्ट्रिक वाहन और एआई - आधारित निरीक्षण प्रणाली।

चीनी निर्माता जैसे कि डिंगहुआ तकनीक स्थानीयकरण में तेजी ला रही है, विदेशी आपूर्तिकर्ताओं पर निर्भरता को कम कर रही है।